MAM
X Işınları Spektrometresi Laboratuvarı
Hakkımızda
X-Işınları Spektrometre Laboratuvarında 1 adet X-Işını Floresan Spektrometre cihazı ve 2 adet Optik Emisyon Spektrometre cihazı ile ürün kalite kontrol ve proses gelişiminin izlenebilmesine yönelik, organik/inorganik malzemelerde kalitatif (nitel)/kantitatif (nicel) analizler gerçekleştirilmektedir.
X-Işını Floresan Spektrometre (XRF) sistemi ile katı haldeki (kütle veya preslenmiş toz) malzemelerin element içerikleri yarı kantitatif-standartsız olarak belirlenebilmektedir.
Optik Emisyon Spektrometre (OES) sistemi ile alüminyum, nikel, kalay, kurşun, titanyum, kobalt, çinko, demir, bakır ve magnezyum esaslı alaşımların element içerikleri kantitatif (nicel) olarak belirlenmektedir.
X-Işınları Spektrometresi Laboratuvarı / Cihazlar
• Dalga boyu dağılımlı X-Işını Floresan Spektrometre (WDXRF)
• Optik Emisyon Spektrometresi (OES)
X-Işınları Spektrometresi Laboratuvarı / Analizler
• İnorganik katı malzemelerin (toz ve kütle) element içeriğinin yarı kantitatif (nicel) olarak belirlenmesi (Atom numarası Oksijen (O) ile Uranyum (U) arasındaki elementler tanımlanabilmektedir.)
• Alüminyum, nikel, kalay, kurşun, titanyum, kobalt, çinko, demir, bakır ve magnezyum esaslı alaşımların element içeriğinin kantitatif (nicel) olarak belirlenmesi